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產(chǎn)品中心三維X射線顯微鏡（XRM）D8 X射線衍射儀原位X射線衍射儀檢測(cè)
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原位X射線衍射儀檢測(cè)
項(xiàng)目 | 細(xì)則 | 收費(fèi) | 說明 |
2Theta/Omega、 XRR、GID | 薄膜樣品：每樣品測(cè)試不超 過 30 min；掃描時(shí)間大于 30min，延長(zhǎng)時(shí)間按240 元/30min收費(fèi)，不足30min 按 30min 計(jì) | / | 1.長(zhǎng)時(shí)間數(shù)據(jù)手機(jī)（大于5h）、復(fù)雜樣品等特殊測(cè)試，價(jià)格需面議； 2.原位測(cè)試需提供測(cè)試方法 |
高溫測(cè)試 | 室溫至 1100℃，包含 2 個(gè)溫 度點(diǎn)，第二點(diǎn)后， 240元/測(cè) 試點(diǎn) (校外 240 元/測(cè)試點(diǎn)) | / | |
中低溫測(cè)試 | -180 至 450℃，多溫度點(diǎn)測(cè)試 時(shí)第三個(gè)溫度起，以 240 元/ 測(cè)試點(diǎn)計(jì)，低溫測(cè)試液氮另加 30 元/時(shí) | / | |
低溫測(cè)試 | 溫度起點(diǎn)低于-180℃，低至 12K，多溫度點(diǎn)測(cè)試時(shí)第三個(gè) 溫度起，以 240元/測(cè)試點(diǎn)計(jì) | / | |
電池充放電測(cè)試 | 變溫范圍：-25℃~+80℃， Peltier 變溫，包含 2 個(gè)測(cè)試 點(diǎn)，第二點(diǎn)后， 240 元/測(cè)試點(diǎn) | / | |
原位電化學(xué)測(cè)試 | 包含 2 個(gè)測(cè)試點(diǎn)，第二測(cè)試點(diǎn) 以后， 240 元/測(cè)試點(diǎn) | / |
原位X射線衍射儀檢測(cè).
儀器功能特點(diǎn)：
1- 高效的6KW TXS-HE轉(zhuǎn)靶光源，強(qiáng)度是封閉靶的5倍；
2- 入射光路三光路自動(dòng)切換系統(tǒng)：粉末衍射聚焦光路、薄膜反射、掠入射平行光路；高分辨光路：高分辨毛細(xì)管透射、反射、外延薄膜高分辨；
3- 探測(cè)器的開口大，適合測(cè)試速度快原位；配置準(zhǔn)直器后開展二維衍射實(shí)時(shí)分析，還原原位二維信息；配備的高低溫系統(tǒng)可實(shí)時(shí)檢測(cè)反應(yīng)中結(jié)構(gòu)的演變過程；
4- 原位充放電、原位電化學(xué)附件更是快速準(zhǔn)確地追溯揭示了phase transformation過程。
應(yīng)用范圍：
原位高低溫附件可以在材料合成過程中來觀察材料結(jié)構(gòu)變化，探索材料合成條件；也可以用來探測(cè)充放電到某個(gè)電位下材料隨溫度變換而產(chǎn)生的相應(yīng)的結(jié)構(gòu)變化，這對(duì)探討實(shí)際電池安全性產(chǎn)生的原因之一，即材料結(jié)構(gòu)變化引起的安全問題是一種重要的手段；
科研支撐
變溫物相分析
變溫過程中的晶粒尺寸、晶型、晶胞參數(shù)及動(dòng)力學(xué)分析
分析、電池充放電物相分析、原位電化學(xué)反應(yīng)物相分析。
產(chǎn)業(yè)支撐
藥物作用機(jī)理及動(dòng)力學(xué)分析、藥物理化性質(zhì)及穩(wěn)定性分析。
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